集成电路 CDM 测试 简介 集成电路(IC)的静电放电(ESD)强固性可藉多种测试来区分。最普遍的测试类型是人体模型(HBM)和充电器件模型(CDM)。这两种 ESD 测试 类型旨在揭示包含基本 ESD 控制的制造环境下，电路在 ESD 应力下的存续情况如何。HBM 是应用最久的 ESD 测试，但工厂 ESD 控制专家普遍认为，在现代高度自动化的组装运营中，CDM 是更重要的 ESD 测试。CDM 应力的大小 会随着器件的尺寸而变化。有关 CDM 的“传统智慧”更认为不需要测试尺寸极小的集成电路，因为峰值电流快 小尺寸集成电路 CDM 测试 IC CDM Test for Small Devices Robert Ashton 安森美半导体，Marty Johnson 国家仪器，Scott Ward 德州仪器速变小直至消失。我们在此前的文章 中

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