本发明提出了基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试方法和系统。所述电路质量测试方法包括：对所述集成电路的电路原理图进行扫描，并根据集成电路的电路原理图在建立电路仿真模型；根据所述电路仿真模型获取集成电路对应的电路检测节点，并利用所述电路检测节点获取电路质量测试参考值；根据所述电路质量测试参考值，结合与所述电路仿真模型的电路检测节点对应的集成电路的电路节点对集成电路进行电路检测。所述系统包括与所述方法步骤对应的模块。

　　(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114912393 A (43)申请公布日 2022.08.16 (21)申请号 1.7 (22)申请日 2022.05.30 (71)申请人 深圳市佳航芯电子有限公司 地址 518000 广东省深圳市福田区华强北 街道福强社区华强北路1002号赛格广 场4102B (72)发明人 柯美延 (74)专利代理机构 北京冠和权律师事务所 11399 专利代理师 万晶晶 (51)Int.Cl. G06F 30/3308 (2020.01) G06F 30/367 (2020.01) 权利要求书3页 说明书10页 附图2页 (54)发明名称 基于集成电路内部节点仿真的电路质量测 试方法 (57)摘要 本发明提出了基于集成电路内部节点仿真 的电路质量测试方法和系统。所述电路质量测试 方法包括：对所述集成电路的电路原理图进行扫 描，并根据集成电路的电路原理图在建立电路仿 真模型；根据所述电路仿真模型获取集成电路对 应的电路检测节点，并利用所述电路检测节点获 取电路质量测试参考值；根据所述电路质量测试 参考值，结合与所述电路仿真模型的电路检测节 点对应的集成电路的电路节点对集成电路进行 电路检测。所述系统包括与所述方法步骤对应的 模块。 A 3 9 3 2 1 9 4 1 1 N C CN 114912393 A 权利要求书 1/3页 1.基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试方法，其特征在于，所述电路质量测试 方法包括： 对所述集成电路的电路原理图进行扫描，并根据集成电路的电路原理图在建立电路仿 真模型； 根据所述电路仿真模型获取集成电路对应的电路检测节点，并利用所述电路检测节点 获取电路质量测试参考值； 根据所述电路质量测试参考值，结合与所述电路仿真模型的电路检测节点对应的集成 电路的电路节点对集成电路进行电路检测。 2.根据权利要求1所述电路质量测试方法，其特征在于，根据所述电路仿真模型获取集 成电路对应的电路检测节点，并利用所述电路检测节点获取电路质量测试参考值，包括： 根据电路仿真模型的电路结构，确定所述集成电路的电路检测节点，其中，所述电路检 测节点包括电压检测和电流检测节点； 对电路仿真模型进行仿真电路运行，并获取每个电路检测节点对应的电流或电压数 值；并利用所述电流或电压数值获取电路质量测试参考值。 3.根据权利要求2所述电路质量测试方法，其特征在于，对电路仿真模型进行仿真电路 运行，并获取每个电路检测节点对应的电流或电压数值；并利用所述电流或电压数值获取 电路质量测试参考值，包括： 在预设仿真时间段内，对所述电路仿真模型进行实时仿真测试； 在仿真过程中，根据仿真数据的采集频率，获取所述预设仿真时间段的每个电路检测 节点对应的所有采集数值； 通过所述每个电路检测节点对应的所有采集数值，通过计算获取所述电路质量测试参 考值。 4.根据权利要求3所述电路质量测试方法，其特征在于，通过所述每个电路检测节点对 应的所有采集数值，通过计算获取所述电路质量测试参考值，包括： 根据所述每个电路检测节点对应的所有采集数值，获取每个电路检测节点对应电流或 电压数值的平均值； 扫描所述每个电路检测节点对应的所有采集数值，提取所述每个电路检测节点对应的 所有采集数值中的采集数值最大值和采集数值最小值，通过所述采集数值最大值和采集数 值最小值以及所述每个电路检测节点对应电流或电压数值的平均值，获取电路质量测试参 考值。 5.根据权利要求1所述电路质量测试方法，其特征在于，根据所述电路质量测试参考 值，结合与所述电路仿真模型的电路检测节点对应的集成电路的电路节点对集成电路进行 电路检测，包括： 结合所述电路检测节点个数，设置集成电路的电路质量检测过程中的启停次数； 根据所述启停次数结合所述电路检测节点个数设置每次集成电路启动至停止之间所 持续的电路运行时间； 按照所述启停次数和每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间，反复启停 运行所述集成电路； 在每次启停运行过程中，实时监测所有所述电路检测节点的实际数值是否符合所述电 2 2 CN 114912393 A 权利要求书 2/3页 路质量测试参考值对应的参考值范围； 当所述集成电路按照所有启停运行次数和每次集成电路启动至停止之间所持续的电 路运行时间完成所有启停运行时，如果所有所述电路检测节点的实际数值均符合所述电路 质量测试参考值对应的参考值范围，则表示所述集成电路完成质量测试，达到预设的电路 运行质量标准。 6.基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试系统，其特征在于，所述电路质量测试 系统包括： 建模模块，用于对所述集成电路的电路原理图进行扫描，并根据集成电路的电路原理 图在建立电路仿真模型； 参数值模块，用于根据所述电路仿真模型获取集成电路对应的电路检测节点，并利用 所述电路检测节点获取电路质量测试参考值； 质量检测模块，用于根据所述电路质量测试参考值，结合与所述电路仿真模型的电路 检测节点对应的集成电路的电路节点对集成电路进行电路检测。 7.根据权利要求6所述电路质量测试系统，其特征在于，所述参数值模块包括： 节点确定模块，用于根据电路仿真模型的电路结构，确定所述集成电路的电路检测节 点，其中，所述电路检测节点包括电压检测和电流检测节点； 参考值获取模块，用于对电路仿真模型进行仿真电路运行，并获取每个电路检测节点 对应的电流或电压数值；并利用所述电流或电压数值获取电路质量测试参考值。 8.根据权利要求7所述电路质量测试系统，其特征在于，所述参考值获取模块包括： 仿真检测模块，用于在预设仿真时间段内，对所述电路仿真模型进行实时仿真测试； 数值采集模块，用于在仿真过程中，根据仿真数据的采集频率，获取所述预设仿真时间 段的每个电路检测节点对应的所有采集数值； 参考值计算模块，用于通过所述每个电路检测节点对应的所有采集数值，通过计算获 取所述电路质量测试参考值。 9.根据权利要求8所述电路质量测试系统，其特征在于，所述参考值计算模块包括： 平均值获取模块，用于根据所述每个电路检测节点对应的所有采集数值，获取每个电 路检测节点对应电流或电压数值的平均值； 计算模块，用于扫描所述每个电路检测节点对应的所有采集数值，提取所述每个电路 检测节点对应的所有采集数值中的采集数值最大值和采集数值最小值，通过所述采集数值 最大值和采集数值最小值以及所述每个电路检测节点对应电流或电压数值的平均值，获取 电路质量测试参考值。 10.根据权利要求6所述电路质量测试系统，其特征在于，所述质量检测模块包括： 启停次数获取模块，用于结合所述电路检测节点个数，设置集成电路的电路质量检测 过程中的启停次数； 运行时间设置模块，用于根据所述启停次数结合所述电路检测节点个数设置每次集成 电路启动至停止之间所持续的电路运行时间； 运行控制模块，用于按照所述启停次数和每次集成电路启动至停止之间所持续的电路 运行时间，反复启停运行所述集成电路； 监测模块，用于在每次启停运行过程中，实时监测所有所述电路检测节点的实际数值 3 3 CN 114912393 A 权利要求书 3/3页 是否符合所述电路质量测试参考值对应的参考值范围； 运行数据监测模块，用于当所述集成电路按照所有启停运行次数和每次集成电路启动 至停止之间所持续的电路运行时间完成所有启停运行时，如果所有所述电路检测节点的实 际数值均符合所述电路质量测试参考值对应的参考值范围，则表示所述集成电路完成质量 测试，达到预设的电路运行质量标准。 4 4 CN 114912393 A 说明书 1/10页 基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试方法 技术领域 [0001] 本发明提出了基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试方法，属于电路检测技 术领域。 背景技术 [0002] 电路制造和生产过程中，电路质量测试常常是保证电路板块良品率的重要生产检 测环节，然而，现有的电路测试均为随机选取电路进行固定时长运行的测试，在测试过程中 选取关键电路节点的信号输出端进行测试，这种方式，常常导致测试时间与电路结构不相 配导致质量测试效率较低或测试量不足导致质量监测准确率较低的问题发生。 发明内容 [0003] 本发明提供了基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试方法，用以解决现有的 电路质量测试过程中，测试时间与电路结构不相配导致质量测试效率较低或测试量不足导 致质量监测准确率较低的问题： [0004] 基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试方法，所述电路质量测试方法包括： [0005] 对所述集成电路的电路原理图进行扫描，并根据集成电路的电路原理图在建立电 路仿线] 根据所述电路仿真模型获取集成电路对应的电路检测节点，并利用所述电路检测 节点获取电路质量测试参考值； [0007] 根据所述电路质量测试参考值，结合与所述电路仿真模型的电路检测节点对应的 集成电路的电路节点对集成电路进行电路检测。 [0008] 进一步地，根据所述电路仿真模型获取集成电路对应的电路检测节点，并利用所 述电路检测节点获取电路质量测试参考值，包括： [0009] 根据电路仿真模型的电路结构，确定所述集成电路的电路检测节点，其中，所述电 路检测节点包括电压检测和电流检测节点； [0010] 对电路仿真模型进行仿真电路运行，并获取每个电路检测节点对应的电流或电压 数值；并利用所述电流或电压数值获取电路质量测试参考值。 [0011] 进一步地，对电路仿真模型进行仿真电路运行，并获取每个电路检测节点对应的 电流或电压数值；并利用所述电流或电压数值获取电路质量测试参考值，包括： [0012] 在预设仿真时间段内，对所述电路仿真模型进行实时仿线] 在仿真过程中，根据仿真数据的采集频率，获取所述预设仿真时间段的每个电路 检测节点对应的所有采集数值； [0014] 通过所述每个电路检测节点对应的所有采集数值，通过计算获取所述电路质量测 试参考值。 [0015] 进一步地，通过所述每个电路检测节点对应的所有采集数值，通过计算获取所述 电路质量测试参考值，包括： 5 5 CN 114912393 A 说明书 2/10页 [0016] 根据所述每个电路检测节点对应的所有采集数值，获取每个电路检测节点对应电 流或电压数值的平均值； [0017] 扫描所述每个电路检测节点对应的所有采集数值，提取所述每个电路检测节点对 应的所有采集数值中的采集数值最大值和采集数值最小值，通过所述采集数值最大值和采 集数值最小值以及所述每个电路检测节点对应电流或电压数值的平均值，获取电路质量测 试参考值； [0018] 其中，所述电路质量测试参考值通过如下公式获取： [0019] [0020] [0021] 其中，V表示当电路检测点采样数值为电压值时，每个电路检测节点对应电压数 值；I表示表示当电路检测点采样数值为电流值时，每个电路检测节点对应电流数值；V 和 max V 分别表示当电路检测点采样数值为电压值时，每个电路检测节点对应的所有采集数值 min 中的采集数值最大值和采集数值最小值；I 和I 分别表示当电路检测点采样数值为电流 max min 值时，每个电路检测节点对应的所有采集数值中的采集数值最大值和采集数值最小值；V0 和I 分别表示所述每个电路检测节点对应的电流和电压数值的平均值。 0 [0022] 进一步地，根据所述电路质量测试参考值，结合与所述电路仿真模型的电路检测 节点对应的集成电路的电路节点对集成电路进行电路检测，包括： [0023] 结合所述电路检测节点个数，设置集成电路的电路质量检测过程中的启停次数； [0024] 根据所述启停次数结合所述电路检测节点个数设置每次集成电路启动至停止之 间所持续的电路运行时间； [0025] 按照所述启停次数和每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间，反复 启停运行所述集成电路； [0026] 在每次启停运行过程中，实时监测所有所述电路检测节点的实际数值是否符合所 述电路质量测试参考值对应的参考值范围； [0027] 当所述集成电路按照所有启停运行次数和每次集成电路启动至停止之间所持续 的电路运行时间完成所有启停运行时，如果所有所述电路检测节点的实际数值均符合所述 电路质量测试参考值对应的参考值范围，则表示所述集成电路完成质量测试，达到预设的 电路运行质量标准。 [0028] 其中，所述集成电路的电路质量检测过程中的启停次数通过如下公式获取： [0029] [0030] 其中，N表示所述启停次数；M表示所述电路检测节点个数；M表示参数数量，M 的取 0 0 值范围为6‑13；α表示增量系数，α的取值范围为8‑15；INT[]表示向上取整； [0031] 所述集成电路的每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间通过如下 公式获取： 6 6 CN 114912393 A 说明书 3/10页 [0032] [0033] 其中，T表示每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间；C表示第i次 i 集成电路启动的对应次数；T表示电路运行标准时间，T 的取值范围为15min‑25min。 0 0 [0034] 基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试系统，所述电路质量测试系统包括： [0035] 建模模块，用于对所述集成电路的电路原理图进行扫描，并根据集成电路的电路 原理图在建立电路仿线] 参数值模块，用于根据所述电路仿真模型获取集成电路对应的电路检测节点，并 利用所述电路检测节点获取电路质量测试参考值； [0037] 质量检测模块，用于根据所述电路质量测试参考值，结合与所述电路仿真模型的 电路检测节点对应的集成电路的电路节点对集成电路进行电路检测。 [0038] 进一步地，所述参数值模块包括： [0039] 节点确定模块，用于根据电路仿真模型的电路结构，确定所述集成电路的电路检 测节点，其中，所述电路检测节点包括电压检测和电流检测节点； [0040] 参考值获取模块，用于对电路仿真模型进行仿真电路运行，并获取每个电路检测 节点对应的电流或电压数值；并利用所述电流或电压数值获取电路质量测试参考值。 [0041] 进一步地，所述参考值获取模块包括： [0042] 仿真检测模块，用于在预设仿真时间段内，对所述电路仿真模型进行实时仿线] 数值采集模块，用于在仿真过程中，根据仿真数据的采集频率，获取所述预设仿真 时间段的每个电路检测节点对应的所有采集数值； [0044] 参考值计算模块，用于通过所述每个电路检测节点对应的所有采集数值，通过计 算获取所述电路质量测试参考值。 [0045] 进一步地，所述参考值计算模块包括： [0046] 平均值获取模块，用于根据所述每个电路检测节点对应的所有采集数值，获取每 个电路检测节点对应电流或电压数值的平均值； [0047] 计算模块，用于扫描所述每个电路检测节点对应的所有采集数值，提取所述每个 电路检测节点对应的所有采集数值中的采集数值最大值和采集数值最小值，通过所述采集 数值最大值和采集数值最小值以及所述每个电路检测节点对应电流或电压数值的平均值， 获取电路质量测试参考值； [0048] 其中，所述电路质量测试参考值通过如下公式获取： [0049] [0050] [0051] 其中，V表示当电路检测点采样数值为电压值时，每个电路检测节点对应电压数 值；I表示表示当电路检测点采样数值为电流值时，每个电路检测节点对应电流数值；V 和 max V 分别表示当电路检测点采样数值为电压值时，每个电路检测节点对应的所有采集数值 min 7 7 CN 114912393 A 说明书 4/10页 中的采集数值最大值和采集数值最小值；I 和I 分别表示当电路检测点采样数值为电流 max min 值时，每个电路检测节点对应的所有采集数值中的采集数值最大值和采集数值最小值；V0 和I 分别表示所述每个电路检测节点对应的电流和电压数值的平均值。 0 [0052] 进一步地，所述质量检测模块包括： [0053] 启停次数获取模块，用于结合所述电路检测节点个数，设置集成电路的电路质量 检测过程中的启停次数； [0054] 运行时间设置模块，用于根据所述启停次数结合所述电路检测节点个数设置每次 集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间； [0055] 运行控制模块，用于按照所述启停次数和每次集成电路启动至停止之间所持续的 电路运行时间，反复启停运行所述集成电路； [0056] 监测模块，用于在每次启停运行过程中，实时监测所有所述电路检测节点的实际 数值是否符合所述电路质量测试参考值对应的参考值范围； [0057] 运行数据监测模块，用于当所述集成电路按照所有启停运行次数和每次集成电路 启动至停止之间所持续的电路运行时间完成所有启停运行时，如果所有所述电路检测节点 的实际数值均符合所述电路质量测试参考值对应的参考值范围，则表示所述集成电路完成 质量测试，达到预设的电路运行质量标准。 [0058] 其中，所述集成电路的电路质量检测过程中的启停次数通过如下公式获取： [0059] [0060] 其中，N表示所述启停次数；M表示所述电路检测节点个数；M表示参数数量，M 的取 0 0 值范围为6‑13；α表示增量系数，α的取值范围为8‑15；INT[]表示向上取整； [0061] 所述集成电路的每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间通过如下 公式获取： [0062] [0063] 其中，T表示每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间；C表示第i次 i 集成电路启动的对应次数；T表示电路运行标准时间，T 的取值范围为15min‑25min。 0 0 [0064] 本发明有益效果： [0065] 本发明提出的基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试方法和系统能够根据 电路的实际结构和内部节点数量有针对性的设置运行检测时间段和启停次数，通过这种设 置方式能够有效提高电路质量测试启停次数和运行时间段与电路的实际结构的匹配度；防 止固定运行启停次数和运行监控时间导致结构简单的电路测试时间较长，导致测试效率降 低的问题发生，同时，也有效防止固定运行启停次数和运行监控时间导致结构复杂的电路 测试时间较短或不足导致质量测试结果不准确的问题发生。通过本发明提出的基于集成电 路内部节点仿真的电路质量测试方法和系统能够在有效提高电路测试效率的同时，最大限 度提高测试过程与电路实际结构的配合性，进而提高电路质量测试准确率和次品发现率。 8 8 CN 114912393 A 说明书 5/10页 附图说明 [0066] 图1为本发明所述方法的流程图一； [0067] 图2为本发明所述方法的流程图二； [0068] 图3为本发明所述系统的系统框图。 具体实施方式 [0069] 以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实 施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。 [0070] 本发明实施例提出了基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试方法，如图1所 示，所述电路质量测试方法包括： [0071] S1、对所述集成电路的电路原理图进行扫描，并根据集成电路的电路原理图在建 立电路仿线、根据所述电路仿真模型获取集成电路对应的电路检测节点，并利用所述电路 检测节点获取电路质量测试参考值； [0073] S3、根据所述电路质量测试参考值，结合与所述电路仿真模型的电路检测节点对pg电子官方网站 应的集成电路的电路节点对集成电路进行电路检测。 [0074] 上述技术方案的工作原理为：首先，对所述集成电路的电路原理图进行扫描，并根 据集成电路的电路原理图在建立电路仿真模型；然后，根据所述电路仿真模型获取集成电 路对应的电路检测节点，并利用所述电路检测节点获取电路质量测试参考值；最后，根据所 述电路质量测试参考值，结合与所述电路仿真模型的电路检测节点对应的集成电路的电路 节点对集成电路进行电路检测。 [0075] 上述技术方案的效果为：本实施例提出的基于集成电路内部节点仿真的电路质量 测试方法能够根据电路的实际结构和内部节点数量有针对性的设置运行检测时间段和启 停次数，通过这种设置方式能够有效提高电路质量测试启停次数和运行时间段与电路的实 际结构的匹配度；防止固定运行启停次数和运行监控时间导致结构简单的电路测试时间较 长，导致测试效率降低的问题发生，同时，也有效防止固定运行启停次数和运行监控时间导 致结构复杂的电路测试时间较短或不足导致质量测试结果不准确的问题发生。通过本发明 提出的基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试方法能够在有效提高电路测试效率的 同时，最大限度提高测试过程与电路实际结构的配合性，进而提高电路质量测试准确率和 次品发现率。 [0076] 本发明的一个实施例，如图2所示，根据所述电路仿真模型获取集成电路对应的电 路检测节点，并利用所述电路检测节点获取电路质量测试参考值，包括： [0077] S201、根据电路仿真模型的电路结构，确定所述集成电路的电路检测节点，其中， 所述电路检测节点包括电压检测和电流检测节点； [0078] S202、对电路仿真模型进行仿真电路运行，并获取每个电路检测节点对应的电流 或电压数值；并利用所述电流或电压数值获取电路质量测试参考值。 [0079] 其中，对电路仿真模型进行仿真电路运行，并获取每个电路检测节点对应的电流 或电压数值；并利用所述电流或电压数值获取电路质量测试参考值，包括： [0080] S2021、在预设仿真时间段内，对所述电路仿真模型进行实时仿线、在仿真过程中，根据仿真数据的采集频率，获取所述预设仿真时间段的每 个电路检测节点对应的所有采集数值； [0082] S2023、通过所述每个电路检测节点对应的所有采集数值，通过计算获取所述电路 质量测试参考值。 [0083] 具体的，通过所述每个电路检测节点对应的所有采集数值，通过计算获取所述电 路质量测试参考值，包括： [0084] 步骤1、根据所述每个电路检测节点对应的所有采集数值，获取每个电路检测节点 对应电流或电压数值的平均值； [0085] 步骤2、扫描所述每个电路检测节点对应的所有采集数值，提取所述每个电路检测 节点对应的所有采集数值中的采集数值最大值和采集数值最小值，通过所述采集数值最大 值和采集数值最小值以及所述每个电路检测节点对应电流或电压数值的平均值，获取电路 质量测试参考值； [0086] 其中，所述电路质量测试参考值通过如下公式获取： [0087] [0088] [0089] 其中，V表示当电路检测点采样数值为电压值时，每个电路检测节点对应电压数 值；I表示表示当电路检测点采样数值为电流值时，每个电路检测节点对应电流数值；V 和 max V 分别表示当电路检测点采样数值为电压值时，每个电路检测节点对应的所有采集数值 min 中的采集数值最大值和采集数值最小值；I 和I 分别表示当电路检测点采样数值为电流 max min 值时，每个电路检测节点对应的所有采集数值中的采集数值最大值和采集数值最小值；V0 和I 分别表示所述每个电路检测节点对应的电流和电压数值的平均值。 0 [0090] 上述技术方案的效果为：通过上述方式和公式获取的电路质量测试参考值能够根 据电路仿真情况进行电路质量测试参考值设置，有效提高电路质量测试参考值范围的准确 性。进而提高电路质量测试的准确性。 [0091] 本发明的一个实施例，根据所述电路质量测试参考值，结合与所述电路仿真模型 的电路检测节点对应的集成电路的电路节点对集成电路进行电路检测，包括： [0092] S301、结合所述电路检测节点个数，设置集成电路的电路质量检测过程中的启停 次数； [0093] S302、根据所述启停次数结合所述电路检测节点个数设置每次集成电路启动至停 止之间所持续的电路运行时间； [0094] S303、按照所述启停次数和每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时 间，反复启停运行所述集成电路； [0095] S304、在每次启停运行过程中，实时监测所有所述电路检测节点的实际数值是否 符合所述电路质量测试参考值对应的参考值范围； [0096] S305、当所述集成电路按照所有启停运行次数和每次集成电路启动至停止之间所 持续的电路运行时间完成所有启停运行时，如果所有所述电路检测节点的实际数值均符合 10 10 CN 114912393 A 说明书 7/10页 所述电路质量测试参考值对应的参考值范围，则表示所述集成电路完成质量测试，达到预 设的电路运行质量标准。 [0097] 其中，所述集成电路的电路质量检测过程中的启停次数通过如下公式获取： [0098] [0099] 其中，N表示所述启停次数；M表示所述电路检测节点个数；M表示参数数量，M 的取 0 0 值范围为6‑13；α表示增量系数，α的取值范围为8‑15；INT[]表示向上取整； [0100] 所述集成电路的每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间通过如下 公式获取： [0101] [0102] 其中，T表示每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间；C表示第i次 i 集成电路启动的对应次数；T表示电路运行标准时间，T 的取值范围为15min‑25min。 0 0 [0103] 上述技术方案的工作原理为：首先，结合所述电路检测节点个数，设置集成电路的 电路质量检测过程中的启停次数；根据所述启停次数结合所述电路检测节点个数设置每次 集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间；然后，按照所述启停次数和每次集成电 路启动至停止之间所持续的电路运行时间，反复启停运行所述集成电路；最后，在每次启停 运行过程中，实时监测所有所述电路检测节点的实际数值是否符合所述电路质量测试参考 值对应的参考值范围；当所述集成电路按照所有启停运行次数和每次集成电路启动至停止 之间所持续的电路运行时间完成所有启停运行时，如果所有所述电路检测节点的实际数值 均符合所述电路质量测试参考值对应的参考值范围，则表示所述集成电路完成质量测试， 达到预设的电路运行质量标准。 [0104] 上述技术方案的效果为：本实施例提出的基于集成电路内部节点仿真的电路质量 测试方法能够根据电路的实际结构和内部节点数量有针对性的设置运行检测时间段和启 停次数，通过这种设置方式能够有效提高电路质量测试启停次数和运行时间段与电路的实 际结构的匹配度；防止固定运行启停次数和运行监控时间导致结构简单的电路测试时间较 长，导致测试效率降低的问题发生，同时，也有效防止固定运行启停次数和运行监控时间导 致结构复杂的电路测试时间较短或不足导致质量测试结果不准确的问题发生。通过本发明 提出的基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试方法能够在有效提高电路测试效率的 同时，最大限度提高测试过程与电路实际结构的配合性，进而提高电路质量测试准确率和 次品发现率。 [0105] 另一方面，通过上述公式获取的启停次数和所述集成电路的每次集成电路启动至 停止之间所持续的电路运行时间能够获得与所述电路检测节点数量和电路结构最佳匹配 度的启停次数和运行时间段，进而最大限度提高启停次数和运行时间段与电路结构的匹配 性。同时，通过上述公式获取的运行时间段能够保证每相邻的两次启停之间的电路运行时 间不同，进而提高电路测试过程的多变性和运行状况复杂性，进而最大限度提高次品发现 率。 [0106] 本发明实施例提出了基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试系统，如图3所 11 11 CN 114912393 A 说明书 8/10页 示，所述电路质量测试系统包括： [0107] 建模模块，用于对所述集成电路的电路原理图进行扫描，并根据集成电路的电路 原理图在建立电路仿线] 参数值模块，用于根据所述电路仿真模型获取集成电路对应的电路检测节点，并 利用所述电路检测节点获取电路质量测试参考值； [0109] 质量检测模块，用于根据所述电路质量测试参考值，结合与所述电路仿真模型的 电路检测节点对应的集成电路的电路节点对集成电路进行电路检测。 [0110] 上述技术方案的工作原理为：首先，通过建模模块对所述集成电路的电路原理图 进行扫描，并根据集成电路的电路原理图在建立电路仿真模型；然后，利用参数值模块根据 所述电路仿真模型获取集成电路对应的电路检测节点，并利用所述电路检测节点获取电路 质量测试参考值；最后，采用质量检测模块根据所述电路质量测试参考值，结合与所述电路 仿真模型的电路检测节点对应的集成电路的电路节点对集成电路进行电路检测。 [0111] 上述技术方案的效果为：本实施例提出的基于集成电路内部节点仿真的电路质量 测试系统能够根据电路的实际结构和内部节点数量有针对性的设置运行检测时间段和启 停次数，通过这种设置方式能够有效提高电路质量测试启停次数和运行时间段与电路的实 际结构的匹配度；防止固定运行启停次数和运行监控时间导致结构简单的电路测试时间较 长，导致测试效率降低的问题发生，同时，也有效防止固定运行启停次数和运行监控时间导 致结构复杂的电路测试时间较短或不足导致质量测试结果不准确的问题发生。通过本发明 提出的基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试系统能够在有效提高电路测试效率的 同时，最大限度提高测试过程与电路实际结构的配合性，进而提高电路质量测试准确率和 次品发现率。 [0112] 本发明的一个实施例，所述参数值模块包括： [0113] 节点确定模块，用于根据电路仿真模型的电路结构，确定所述集成电路的电路检 测节点，其中，所述电路检测节点包括电压检测和电流检测节点； [0114] 参考值获取模块，用于对电路仿真模型进行仿真电路运行，并获取每个电路检测 节点对应的电流或电压数值；并利用所述电流或电压数值获取电路质量测试参考值。 [0115] 其中，所述参考值获取模块包括： [0116] 仿真检测模块，用于在预设仿真时间段内，对所述电路仿真模型进行实时仿线] 数值采集模块，用于在仿真过程中，根据仿真数据的采集频率，获取所述预设仿真 时间段的每个电路检测节点对应的所有采集数值； [0118] 参考值计算模块，用于通过所述每个电路检测节点对应的所有采集数值，通过计 算获取所述电路质量测试参考值。 [0119] 具体的，所述参考值计算模块包括： [0120] 平均值获取模块，用于根据所述每个电路检测节点对应的所有采集数值，获取每 个电路检测节点对应电流或电压数值的平均值； [0121] 计算模块，用于扫描所述每个电路检测节点对应的所有采集数值，提取所述每个 电路检测节点对应的所有采集数值中的采集数值最大值和采集数值最小值，通过所述采集 数值最大值和采集数值最小值以及所述每个电路检测节点对应电流或电压数值的平均值， 12 12 CN 114912393 A 说明书 9/10页 获取电路质量测试参考值； [0122] 其中，所述电路质量测试参考值通过如下公式获取： [0123] [0124] [0125] 其中，V表示当电路检测点采样数值为电压值时，每个电路检测节点对应电压数 值；I表示表示当电路检测点采样数值为电流值时，每个电路检测节点对应电流数值；V 和 max V 分别表示当电路检测点采样数值为电压值时，每个电路检测节点对应的所有采集数值 min 中的采集数值最大值和采集数值最小值；I 和I 分别表示当电路检测点采样数值为电流 max min 值时，每个电路检测节点对应的所有采集数值中的采集数值最大值和采集数值最小值；V0 和I 分别表示所述每个电路检测节点对应的电流和电压数值的平均值。 0 [0126] 上述技术方案的效果为：通过上述方式和公式获取的电路质量测试参考值能够根 据电路仿真情况进行电路质量测试参考值设置，有效提高电路质量测试参考值范围的准确 性。进而提高电路质量测试的准确性。 [0127] 本发明的一个实施例，所述质量检测模块包括： [0128] 启停次数获取模块，用于结合所述电路检测节点个数，设置集成电路的电路质量 检测过程中的启停次数； [0129] 运行时间设置模块，用于根据所述启停次数结合所述电路检测节点个数设置每次 集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间； [0130] 运行控制模块，用于按照所述启停次数和每次集成电路启动至停止之间所持续的 电路运行时间，反复启停运行所述集成电路； [0131] 监测模块，用于在每次启停运行过程中，实时监测所有所述电路检测节点的实际 数值是否符合所述电路质量测试参考值对应的参考值范围； [0132] 运行数据监测模块，用于当所述集成电路按照所有启停运行次数和每次集成电路 启动至停止之间所持续的电路运行时间完成所有启停运行时，如果所有所述电路检测节点 的实际数值均符合所述电路质量测试参考值对应的参考值范围，则表示所述集成电路完成 质量测试，达到预设的电路运行质量标准。 [0133] 其中，所述集成电路的电路质量检测过程中的启停次数通过如下公式获取： [0134] [0135] 其中，N表示所述启停次数；M表示所述电路检测节点个数；M表示参数数量，M 的取 0 0 值范围为6‑13；α表示增量系数，α的取值范围为8‑15；INT[]表示向上取整； [0136] 所述集成电路的每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间通过如下 公式获取： [0137] 13 13 CN 114912393 A 说明书 10/10页 [0138] 其中，T表示每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间；C表示第i次 i 集成电路启动的对应次数；T表示电路运行标准时间，T 的取值范围为15min‑25min。 0 0 [0139] 上述技术方案的工作原理为：首先，采用启停次数获取模块结合所述电路检测节 点个数，设置集成电路的电路质量检测过程中的启停次数；然后，利用运行时间设置模块根 据所述启停次数结合所述电路检测节点个数设置每次集成电路启动至停止之间所持续的 电路运行时间；通过运行控制模块按照所述启停次数和每次集成电路启动至停止之间所持 续的电路运行时间，反复启停运行所述集成电路；之后，采用监测模块在每次启停运行过程 中，实时监测所有所述电路检测节点的实际数值是否符合所述电路质量测试参考值对应的 参考值范围；最后，通过运行数据监测模块在当所述集成电路按照所有启停运行次数和每 次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间完成所有启停运行时，如果所有所述电 路检测节点的实际数值均符合所述电路质量测试参考值对应的参考值范围，则表示所述集 成电路完成质量测试，达到预设的电路运行质量标准。 [0140] 上述技术方案的效果为：本实施例提出的基于集成电路内部节点仿真的电路质量 测试系统能够根据电路的实际结构和内部节点数量有针对性的设置运行检测时间段和启 停次数，通过这种设置方式能够有效提高电路质量测试启停次数和运行时间段与电路的实 际结构的匹配度；防止固定运行启停次数和运行监控时间导致结构简单的电路测试时间较 长，导致测试效率降低的问题发生，同时，也有效防止固定运行启停次数和运行监控时间导 致结构复杂的电路测试时间较短或不足导致质量测试结果不准确的问题发生。通过本发明 提出的基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试系统能够在有效提高电路测试效率的 同时，最大限度提高测试过程与电路实际结构的配合性，进而提高电路质量测试准确率和 次品发现率。 [0141] 另一方面，通过上述公式获取的启停次数和所述集成电路的每次集成电路启动至 停止之间所持续的电路运行时间能够获得与所述电路检测节点数量和电路结构最佳匹配 度的启停次数和运行时间段，进而最大限度提高启停次数和运行时间段与电路结构的匹配 性。同时，通过上述公式获取的运行时间段能够保证每相邻的两次启停之间的电路运行时 间不同，进而提高电路测试过程的多变性和运行状况复杂性，进而最大限度提高次品发现 率。 [0142] 显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精 神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围 之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。 14 14 CN 114912393 A 说明书附图 1/2页 图1 图2 15 15 CN 114912393 A 说明书附图 2/2页 图3 16 16

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