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集成电路测试项目标准内容介绍

作者:小编    发布时间:2026-07-11 16:46:32    浏览量:

  

集成电路测试项目标准内容介绍(图1)

  封装测试,高低温测试,可靠性测试,弯扭测试,低功耗测试,盐雾测试,晶圆测试,固晶推力pg电子官方网站测试,接口插拔力测试,引脚测试,泄漏电流测试,气密性测试,绝缘强度测试,电磁兼容测试等。

  GB/T 4023-2015半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管

  GB/T 4587-1994半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

  GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范

  GB/T 6798-1996半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理

  GB/T 14029-1992半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理

  GB/T 14031-1992半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理

  GB/T 15136-1994半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理

  GB/T 15651.2-2003半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性

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